1.一种基于旋转式铁谱仪谱片光密度测量分析系统的分析方法，所述旋转式铁谱仪谱片光密度测量分析系统包括三目显微镜、带有限位开关的电动载物台、电机驱动器、光电传感器、跨阻放大器、多功能板卡以及上位机；所述三目显微镜包括光源、物镜，带有限位开关的电动载物台设置于光源与物镜之间；三目显微镜的第三目与光电传感器连接，光电传感器的光照接收面与第三目光路垂直，且光电传感器的光照接收面中心位于第三目光路轴线上；光电传感器经跨阻放大器与多功能板卡连接，多功能板卡还分别与上位机、电机驱动器连接，电机驱动器与带有限位开关的电动载物台连接，所述带有限位开关的电动载物台设有用于固定旋转式铁谱仪谱片的正方形凹槽，正方形凹槽一侧设有凹槽缺口；其特征在于，所述分析方法包括如下步骤：步骤1，对旋转式铁谱仪谱片光密度测量分析系统进行调零调壹校准操作；具体步骤为：

11)开启光源，将光源电压预调到4伏左右，用10×物镜观察谱片磨粒并聚焦，然后转换成40×物镜观察谱片磨粒并聚焦；

12)把三目显微镜视场移至谱片上没有磨粒的干净处，调整显微镜光路使光线进入第三目，并将系统上位机上显示的数字调为0.000；

13)调整显微镜光路使光线不能进入第三目，并将系统上位机上显示的数字调为

1.000；

14)将遮光率为50％的黑白滤光片盖在光线出光孔上，并调节光源的电压，使系统上位机上显示的数字为0.500；

15)拿出黑白滤光片，若系统上位机上显示的数字不为0.000，则继续将系统上位机上显示的数字调为0.000；

16)重复14)、15)使光密度测量分析系统同时满足13)和14)的要求，则光密度测量分析系统校准完毕；

步骤2，将待测的旋转式铁谱仪谱片置于正方形凹槽内，通过上位机控制电动载物台沿三目显微镜的视场位移路径移动，同时记录并存储三目显微镜视场内磨粒覆盖面积百分数与视场中心距谱片中心距离；具体步骤为：

21)将画有两条交叉对角线的空白旋转式铁谱仪谱片平放在凹槽内，通过目镜观察对角线交叉点即谱片中心，水平移动载物台使交叉点位于视场中心，确定此时电动载物台的位置为零点；

22)以电动载物台位于零点时谱片中心为显微镜视场位移原点，以45°为间隔角度分布出8条显微镜视场直线位移路径，每条位移路径始于原点，终于谱片外环以外3mm处；

23)视场选择任意一条路径从原点移动到终点后自动进行复位，同时记录并存储三目显微镜视场内磨粒覆盖面积百分数与视场中心距谱片中心距离，复位时，不计算视场内磨粒覆盖面积百分数；

24)在顺时针方向间隔角度为45°的下一条路径上进行相同的动作，在完成8条不同路径上的移动后，电动载物台自动复位并停止；

步骤3，根据磨粒覆盖面积百分数得到用于光密度测量分析的指标数值，绘制指标随采样时间变化的趋势曲线图，通过三线值法对机械磨损状况进行判断；具体步骤为：

31)从三目显微镜视场内磨粒覆盖面积百分数与视场中心距谱片中心距离的数据中，分别提取视场中心距谱片中心距离为4.5mm‑6.5mm、8.5mm‑10.5mm、13.5mm‑15.5mm三个区间内的磨粒覆盖面积百分数极大值，将这3个极大值分别作为谱片内环磨粒覆盖面积百分数、中环磨粒覆盖面积百分数、外环磨粒覆盖面积百分数；

32)在完成8条视场位移路径的移动后，计算并存储谱片内环磨粒覆盖面积百分数平均值AL、谱片中环磨粒覆盖面积百分数平均值AM、谱片外环磨粒覆盖面积百分数平均值AS、磨粒浓度AL+AM+AS、磨损烈度指数[AL+(AM+AS)][AL‑(AM+AS)]；

33)绘制同一机械部位油样的磨粒浓度、磨损烈度指数随取样时间变化的趋势曲线图，根据三线值法设置“注意”、“警告”、“故障”3条临界线，对机械的磨损状况进行判断。

2.根据权利要求1所述分析方法，其特征在于，所述光源为发光二极管。

3.根据权利要求1所述分析方法，其特征在于，所述光电传感器为硅光电池。

4.根据权利要求1所述分析方法，其特征在于，所述带有限位开关的电动载物台由电机驱动，电机是步进电机或者伺服电机。