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专利号: 2016104929478
申请人: 温州大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2023-08-24
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种光散射法颗粒粒径分布反演的索套回归方法,其特征在于,利用下式求散射光在光电探测器环上的光能分布列向量E:其中,Γ为光能分布系数矩阵;W为颗粒分布矩阵;上标H表示矩阵或向量的共轭转置运算; 表示2-范数;D=diag[d(0),d(1),…,d(n)], j=0,1,…,n;α是拉格朗日因子,α>0; P为迭代总次数;W(l)为索套回归方法惩罚项,l=0,1,…,n。

2.根据权利要求1所述的光散射法颗粒粒径分布反演的索套回归方法,其特征在于,是主对角元素为|Ej|2的对角矩阵。

3.根据权利要求1所述的光散射法颗粒粒径分布反演的索套回归方法,其特征在于,Γ的元素由 θn+1和θn分别为光电探测器环内径、外径的散射角,θn≤θ≤θn+1;其中,Di为颗粒粒径;i1和i2分别为垂直和平行于散射面的散射强度函数;θn+1和θn分别为光电探测器环内径、外径的散射角。