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专利号: 2016100100140
申请人: 浙江理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 计算;推算;计数
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种缺陷关联系数的度量方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一:从缺陷管理系统中抽象出来需要计算关联度的缺陷信息建立抽象的缺陷关联模型;

所述缺陷关联模型包括与缺陷管理系统对应的ODC属性、缺陷所在组件属性以及缺陷之间的调用关系;

步骤二:计算缺陷的数据相似度;其包括如下步骤:

步骤2a:提取缺陷的基本属性;

步骤2b:建立缺陷的特征维度;

步骤2c:实现缺陷数据相似性的计算,并基于该相似值来建立缺陷关联;其包括:步骤2c1:将缺陷特征集数据进行量化处理;量化方法如下:其中,x为缺陷特征向量X中某个特征的类标识,y缺陷特征向量Y中某个特征的类标识;

步骤2c2:计算缺陷间数据相似度;缺陷间数据相似度的计算方法如下:其中,dsim(X,Y)表示两个缺陷向量之间缺陷特征不相同的个数,dsim表示两个缺陷间的数据相似度;

步骤2c3:建立缺陷的数据相似度关联,当发现某个缺陷时,将与该缺陷关联的缺陷按照缺陷数据相似度由高到低逐个列出,由测试人员进一步测试并排除对应的缺陷;

步骤三:计算缺陷间的耦合度;包括:

步骤3a:利用面向对象的继承性将缺陷间耦合度的度量转换为组件之间耦合度的度量;

步骤3b:通过量化组件之间的类之间的需求和提供的程度,来计算组件之间耦合度;量化方法如下:其中,c向外提供的方法集为MP(c),c需求外界的方法集为MR(c),P(a,b)表示组件b需要接口交互的组件a提供方法集合,对于一个组件c∈C,则有步骤四:根据缺陷的数据相似度、缺陷间的耦合度计算缺陷关联系数;

步骤五:根据缺陷传播特性更新缺陷关联系数矩阵。

2.根据权利要求1所述的一种缺陷关联系数的度量方法,其特征在于,步骤四包括:根据实际情况来调整缺陷间数据相似度、缺陷间耦合度的权重,使得适应不同情况下的应用;

缺陷间数据相似度、缺陷间耦合度的权重分别用α,β表示,缺陷关联系数DCC计算公式为:DCC(x,y)=α·dsim(x,y)+β·Depd(x,y),其中0≤α≤1,0≤β≤1且α+β=1。

3.根据权利要求2所述的一种缺陷关联系数的度量方法,其特征在于,所述步骤五包括:步骤5a:将缺陷关联系数矩阵转化为带权的无向连通网,得到各个缺陷节点的父节点和子节点;

步骤5b:利用缺陷传播性,计算非直接关联缺陷之间的缺陷关联系数;

步骤5c:针对两个缺陷节点之间有多条可达路径的情况,计算得到两者的缺陷关联系数,并实时更新缺陷关联矩阵。

4.根据权利要求3所述的一种缺陷关联系数的度量方法,其特征在于,所述步骤5b中非直接关联缺陷之间的缺陷关联系数方法如下:其中,X为节点X'的同级节点,k为节点X,Y'之间简单路径的条数,nj为第j条简单路径经过的节点数,j为简单路径序号,i为简单路径中的节点序号,DCC(i,i+1)为第j条路径中节点i与节点i+1之间的关联系数,DCC(X,X')为节点X'与节点X之间的关联系数;DCC(X′,Y′)为祖先节点(设为X')与其非直系的后代节点(设为Y')之间的关联系数。

5.根据权利要求3所述的一种缺陷关联系数的度量方法,其特征在于,所述步骤5c包括:步骤5c1:根据缺陷关联矩阵建立有向图网络.求缺陷节点的父节点、子节点;

步骤5c2:采用递归和链式队列从指定的节点开始,逐级搜索各个缺陷节点的所有父节点,并将搜索结果依次入列,按先进先出顺序将队列中的节点出队列,搜索当前队列的节点的所有缺陷的父节点并入队列,依次循环,直至队列为空时停止;

步骤5c3:根据上述搜索结果,采用结构体链表来表达缺陷节点的父子关系,链表的缺陷节点采用结构体变量;结构体中包含三个变量Data,Parent和No.;其中,Data存放缺陷节点的代号,Parent存放该缺陷节点的父节点入队列时的顺序号,No.存放该节点本身入队列时的顺序号;

步骤5c4:搜索上述结构体链表中Data值不为路径终点的元素;利用递归算法依次搜索各节点的父节点,直至父节点为终点时为止;搜索完整个链表中Data值不为终点的元素,得到其它节点至终点的所有简单路径;

步骤5c5:根据公式(4)计算出相邻两节点间的关联系数,更新缺陷关联矩阵,再计算出各节点之间的关联系数,更新缺陷关联矩阵;

步骤5c6:反复步骤5c5直至计算出所有节点间的关联系数,更新缺陷关联矩阵。