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专利号: 2015104299318
申请人: 河南科技大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于误差分离技术的轴承保持架运动轨迹测量方法,其特征在于,包括如下步骤:

1)测量保持架径向平面内保持架轴心沿X和Y方向上的平移分量dX、dY;

2)根据保持架半径R及平移分量dX、dY,计算保持架在X、Y方向上的平移自由度x、y;

3)设置位移传感器,并记录位移传感器在X-Y坐标系中的位置(xAm,yAm)、传感器测量值dAm,采用误差分离技术分离出保持架端面形貌误差δ(θm),其中,m表示传感器的编号,θm为从轴心到传感器测量点方向与X轴方向的夹角;

4)根据步骤3)中的位移传感器位置(xAm,yAm)、传感器测量值dAm及保持架端面形貌误差δ(θm),计算出保持架饶X和Y轴的旋转自由度i、j和沿轴向攒动的自由度z;

5)根据x、y、z、i、j这五个自由度得到保持架的运动轨迹。

2.根据权利要求1所述的基于误差分离技术的轴承保持架运动轨迹测量方法,其特征在于,所述步骤2)中保持架在X、Y方向上的平移自由度x、y的计算公式为:

3.根据权利要求1所述的基于误差分离技术的轴承保持架运动轨迹测量方法,其特征在于,所述步骤4)中保持架饶X和Y轴的旋转自由度i、j和沿轴向攒动的自由度z的计算公式如下:其中,p0=θ0*N/2π,p1=θ1*N/2π,p2=θ2*N/2π,N是一周采样点总个数,k=

0…N-1。

4.根据权利要求1所述的基于误差分离技术的轴承保持架运动轨迹测量方法,其特征在于,所述步骤1)中在保持架径向平面内布置两个用于测量dX和dY的位移传感器,该位移传感器发出的光线相互垂直相交,交点位于保持架轴线上。

5.根据权利要求1所述的基于误差分离技术的轴承保持架运动轨迹测量方法,其特征在于,所述步骤3)中设置了四个位移传感器,四个位移传感器构成的平面与保持架端面平行,且四个位移传感器发出的光线与保持架轴线平行,且落在保持架上。

6.根据权利要求1所述的基于误差分离技术的轴承保持架运动轨迹测量方法,其特征在于,所述保持架端面形貌误差δ(θm)的计算公式如下:其 中,k=0…N-1为θm的 离 散 值,Δ(n)=D(n)/G(n),n= 0…N-1,D(n)=C0δ(p0)+C1δ(p1)+C2δ(p2)+C2δ(p3),C0、C1、C2、C3为加权系数,且C0、C1、C2、C3满足以下条件: