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专利号: 2013100996785
申请人: 浙江工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 基本电子电路
更新日期:2023-12-11
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.CMOS迟滞过温保护电路,其特征在于:包括由PNP晶体管Q0、电阻R2、电阻R3、电阻R4和PMOS开关管M11组成的核心过温控制电路1,PMOS开关管M11栅电压为保护电路输出电压Vout,所述PMOS开关管M11与电阻R4并联,并联的一端接电源电压,并联的另一端与所述电阻R3一端相连,所述电阻R3的另一端与PNP晶体管的基极相连,所述PNP晶体管Q0的发射极与电源电压相连,所述PNP晶体管Q0的集电极与所述电阻R2的一端相连,所述电阻R2的另一端与地电压相连。

2.如权利要求1所述的CMOS迟滞过温保护电路,其特征在于:所述迟滞过温保护电路还包括共源共栅恒流产生支路2,由电阻R1,NMOS晶体管M1,NMOS晶体管M2,NMOS晶体管M3,NMOS晶体管M4,NMOS晶体管M5和NMOS晶体管M6组成。所述电阻R1的一端与电源相连,所述电阻R1的另一端与NMOS晶体管M1的漏端相连,所述NMOS晶体管M1的漏端、栅端并联,并与所述NMOS晶体管M2和所述NMOS晶体管M5的栅端相连,所述NMOS晶体管M1的源端与所述NMOS晶体管M3的漏端相连,所述NMOS晶体管M3的漏端、栅端并联,并与所述NMOS晶体管M4和所述NMOS晶体管M6的栅端相连,所述NMOS晶体管M2的漏端与电源相连,所述NMOS晶体管M2的源端与所述NMOS晶体管M4的漏端相连,所述NMOS晶体管M5的源端与所述NMOS晶体管M6的漏端相连,所述NMOS晶体管M3、M4、M6的源端分别接地,所述NMOS晶体管M5的漏端作为支路2的输出端与所述PNP晶体管Q0的基极相连。

3.如权利要求2所述的CMOS迟滞过温保护电路,其特征在于:所述迟滞过温保护电路还包括一个输出信号电平控制支路3,由PMOS晶体管M7,PMOS晶体管M9,NMOS晶体管M8和NMOS晶体管M10组成,所述PMOS晶体管M7、NMOS晶体管M8的栅端相连,并与PNP晶体管的集电极相连,所述PMOS晶体管M7的漏端与所述PMOS开关管M11的漏端相连,所述PMOS晶体管M7的漏端与所述NMOS晶体管M8的漏端相连,并与所述PMOS晶体管M9和所述NMOS晶体管M10的栅端并连,所述NMOS晶体管M8的源端接地,所述PMOS晶体管M9的源端与电源相连,所述PMOS晶体管M9的漏端与所述NMOS晶体管M10的漏端相连,并与所述PMOS开关管M11的栅端相连,形成Vout输出端,所述NMOS晶体管的源端接地。