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专利号: 201210518149X
申请人: 惠州TCL移动通信有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 电通信技术
更新日期:2024-02-23
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种检测SIM卡热插拔的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

检测设置在SIM卡座上的磁铁所产生的磁场的磁场强度;

预设一阈值,并判断所述磁场强度是否小于或等于所述阈值;

当判断结果为是时,则判定所述SIM卡插入所述SIM卡座,开启所述SIM卡的电源,并进一步开启所述SIM卡的应用程序;当判断结果为否时,则判定所述SIM卡从所述SIM卡座拔出,关闭所述SIM卡的电源,并在关闭所述SIM卡的电源前进一步关闭所述SIM卡的应用程序。

2.一种移动终端,其特征在于,所述移动终端包括:

SIM卡座,用于收容SIM卡,所述SIM卡座包括:本体、设置在所述本体上的铁壳以及设置在所述铁壳上的磁铁,所述本体与所述铁壳连接,所述磁铁产生磁场;

磁场检测单元,设置在所述SIM卡座的其中一端,用于检测所述磁铁所产生的磁场的磁场强度;

处理单元,用于预设一阈值,所述处理单元从所述磁场检测单元获取所述磁场强度,并判断所述磁场强度是否小于或等于所述阈值,当判断结果为是时,则所述处理单元判定所述SIM卡插入所述SIM卡座,所述处理单元开启所述SIM卡的电源及开启所述SIM卡的应用程序;当判断结果为否时,则所述处理单元判定所述SIM卡从所述SIM卡座拔出,所述处理单元关闭所述SIM卡的电源,并在关闭所述电源前进一步关闭所述SIM卡的应用程序。

3.根据权利要求2所述的移动终端,其特征在于,所述SIM卡座进一步包括连接端子,所述处理单元通过所述连接端子开启所述SIM卡的电源或者关闭所述SIM卡的电源。

4.根据权利要求2所述的移动终端,其特征在于,所述SIM卡座进一步包括卡扣,所述本体与所述铁壳通过所述卡扣连接。