1.一种薄膜及光学元件损伤判别的声学方法，其特征在于：通过探测薄膜损伤瞬间产生的声学时域强度信号，进而对时域强度信号进行副立叶变化，经过副立叶变化后，提取出时域信号的频域特征，即出现某一特定的频率，该频率表征了薄膜是否损伤，从得到的时域信号和该信号的频域特征，综合给出薄膜损伤与否的准确判据，即时域是否出现强度峰并且频域是否有特征频率；

在所述测试薄膜损伤时，采集到不同激光脉冲能量作用时，获得声波信号的时域谱；

对一种特定的薄膜，测量出不同损伤脉冲能量下的声学信号强度，作强度峰值和损伤脉冲能量的曲线，选取强度峰值达到或者超过多少时，定义为薄膜损坏的判据；

结合时域信号强度和频域频率定位来组合判定薄膜是否损伤，即脉冲激光作用薄膜的瞬间，时域信号既要出现强度峰值，同时观测频域特征频率，二者同时出现即可判定薄膜已经损伤。